產品詳情
簡單介紹：
GE-XP谷物品質圖像分析系統應用圖像自動分析系統測定谷物雜質和不完善粒的檢測設備。適用于各類谷物的檢測。該系統集計算機技術與圖像處理技術于一體，通過CCD攝像機、進料機構、驅動機構和出料機構以及圖像自動采集系統
詳情介紹：
GE-XP谷物品質圖像分析系統應用圖像自動分析系統測定谷物雜質和不完善粒的檢測設備。適用于各類谷物的檢測。該系統集計算機技術與圖像處理技術于一體，通過CCD攝像機、進料機構、驅動機構和出料機構以及圖像自動采集系統，經圖像處理和BP神經網絡的分類算法，達到對于標準麥、破損麥和異種糧霉變糧的自動識別。
主要性能指標：
1. 稻谷：未熟粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識別準確率≥95%
2. 小麥：破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識別準確率≥95%
3. 玉米：破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒、熱損傷粒。識別準確率≥95%
4. 大米：堊白粒率、粒型、黃粒米、堊白度。識別準確率≥95%
